服务热线
| 品牌 | KOSAKA/小坂研究所 |
|---|
NanoFocus半导体探针卡检测设备产品参数
| 分辨率 | X & Y轴: 0.5-5.1um; |
|---|---|
| Z轴:0.016 um; | |
| 取样率 | 8000 Hz |
| 工作距离 | 8 mm |
| 扫描宽度 | 630 um |
| 高度范围 | 300 um – 400 um |
| 机台尺寸 | 300mm x 300mm(可定制) |
KOSAKA小坂研究所半导体探针卡检测设备
● 承载量> 50 kg。● 专用探针卡盘;RFID 卡识别。● 适用于SEMI以及SECS/GEM协议。● MEMS式, 垂直式, 悬臂式探针卡。● 评估晶圆磨损与探针尖/头的相关性。● 探测探针卡表面异物与表面堵塞情况。● 持续监测耗损状况, 精确预测使用寿命。● 迅速评估, 精准定位, 大幅降
KOSAKA小坂研究所半导体探针卡检测设备
● 承载量> 50 kg。● 专用探针卡盘;RFID 卡识别。● 适用于SEMI以及SECS/GEM协议。● MEMS式, 垂直式, 悬臂式探针卡。● 评估晶圆磨损与探针尖/头的相关性。● 探测探针卡表面异物与表面堵塞情况。● 持续监测耗损状况, 精确预测使用寿命。● 迅速评估, 精准定位, 大幅降








