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KOSAKA小坂研究所半导体晶圆检测设备

简要描述:KOSAKA小坂研究所半导体晶圆检测设备
● 高成本效益设备。● 一次扫描涵盖所有凸块,产出真实3D数据。● 适用于SEMI标准。● 适用于所有基板类型。● C4, solder ball, Cu-pillars, SRO, …。● 适用于4",6",8"晶圆 。● 工业标准数据端口。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2025-11-20
  • 访  问  量:30
详细介绍
品牌KOSAKA/小坂研究所

NanoFocus半导体晶圆检测设备(人工装载)产品参数



分辨率

X & Y轴: 0.5-2.5um;

Z轴:0.016 um;

取样率

20000 Hz

工作距离

8 mm

扫描宽度

630 um

高度范围

300 um – 400 um

机台尺寸

400mm x 400mm(可定制)

KOSAKA小坂研究所半导体晶圆检测设备                                                                          

● 高成本效益设备。● 一次扫描涵盖所有凸块,产出真实3D数据。● 适用于SEMI标准。● 适用于所有基板类型。● C4, solder ball, Cu-pillars, SRO, …。● 适用于4",6",8"晶圆 。● 工业标准数据端口。

KOSAKA小坂研究所半导体晶圆检测设备                                                

● 高成本效益设备。● 一次扫描涵盖所有凸块,产出真实3D数据。● 适用于SEMI标准。● 适用于所有基板类型。● C4, solder ball, Cu-pillars, SRO, …。● 适用于4",6",8"晶圆 。● 工业标准数据端口。


 


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