服务热线
| 品牌 | KOSAKA/小坂研究所 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 综合 |
Nano Focus半导体晶圆检测设备（全自动集成型）产品参数
| 分辨率 | X & Y轴: 0.5-2.5um; |
|---|---|
| Z轴：0.016 um; | |
| 取样率 | 20000 Hz |
| 工作距离 | 8 mm |
| 扫描宽度 | 630 um |
| 高度范围 | 300 um – 400 um |
| 机台尺寸 | 300mm x 300mm（可定制） |
小坂研究所KOSAKA半导体晶圆检测设备
● 高速度，高精度，高产出。● 优化的占地面积和尺寸。● 适用于SEMI以及SECS/GEM协议。● 晶圆, MEMS, 陶瓷基板, PCB板, …。● C4, solder ball, Cu-pillars, SRO, Gold bump。● 适用于4"，6"，8"晶圆 。● 一次扫描涵盖所有凸块产出真实 3D 数据。
小坂研究所KOSAKA半导体晶圆检测设备
● 高速度，高精度，高产出。● 优化的占地面积和尺寸。● 适用于SEMI以及SECS/GEM协议。● 晶圆, MEMS, 陶瓷基板, PCB板, …。● C4, solder ball, Cu-pillars, SRO, Gold bump。● 适用于4"，6"，8"晶圆 。● 一次扫描涵盖所有凸块产出真实 3D 数据。