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| 品牌 | MITUTOYO/日本三丰 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 综合 |
江西欣罡科技供应MITUTOYO三丰工件测量型
Hyper MF/MF-U系列核心技术解析
1. 超精密测量系统
采用(0.9+3L/1000)µm级XY轴测量精度，配合0.01µm最小显示分辨率，实现微米级尺寸测量。Z轴电动驱动速度达20mm/s，配备防碰撞下限设定功能，确保测量安全性。
2. 革命性光学系统
• 正像观察系统支持10x-100x物镜变倍，搭配平场复消色差镜头消除色差
• 明/暗场双模式照明系统，可选配微分干涉与偏光观察
• 激光自动对焦(LAF)技术实现1秒快速对焦
3. 智能化操作设计
三轴电动控制台集成前置操纵杆，支持RS-232C/USB双数据输出。Vision Unit选件实现影像自动对焦，工作台快速释放装置缩短60%调试时间。
4. 工业级应用适配
250×150mm至400×200mm多规格载物台，最大支持220mm工件高度。通过JIS B 7153认证，特别适用于：
半导体晶圆缺陷检测
精密模具三维轮廓分析
微型轴承尺寸验证
5. 系列型号对比
型号
核心差异
典型应用场景
Hyper MF
基础型，单目/双目配置
常规精密零件检测
MF-UA/UJ
2轴手动/Z轴电动
大批量产线快速测量
MF-UK/UD
明暗场+3轴电动
复杂光学元件分析
技术演进
2025年新型MF-UB2515B型号将测量精度提升至(0.9+0.003L)µm，配备250×150mm大理石工作台，成为IC封装检测的新
江西欣罡科技供应MITUTOYO三丰工件测量型