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| 品牌 | KOSAKA/小坂研究所 |
|---|
台阶仪/膜厚仪ET10000产品参数
KOSAKA小坂台阶仪薄膜测厚仪微细形状测定机 型号:ET10000
| 重现性 | 1σ 1nm |
|---|---|
| 测定范围 | Z:100um |
| 分解能 | Z:0.1nm X:0.1um |
| 测定力 | 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg) |
KOSAKA小坂台阶仪薄膜测厚仪微细形状测定机 型号:ET10000
产品概述:
● 对应大面积样品段差测定的全自动机型。
● 机台尺寸可根据样品/工件尺寸订制。
● 针对生产线全自动大型工件开发,可搭配机械手臂自动进退样品。
产品概述:
● 对应大面积样品段差测定的全自动机型。
● 机台尺寸可根据样品/工件尺寸订制。
● 针对生产线全自动大型工件开发,可搭配机械手臂自动进退样品。







